5奈米晶圓製程良率的推升利器！

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5奈米晶圓製程良率的推升利器！

即日起，我們為顧客提供2019年最新式的5奈米智慧型晶圓缺陷分析分類平台(含缺陷尺寸計量系統) 的效能展示及產品試用服務，期使用戶親身體驗本系列產品強大且準確之偵測效能、實證其提升製造良率之核心性能，歡迎來信 support@aoelab.com.tw 洽詢詳情與排程。

我們深信：本專利創新的檢測平台是您加速推升晶圓製程良率之首選配備，其性能與效能皆獨步業界，定有助於強化並鞏固貴公司在全球半導體產業的競爭優勢，值得專家與決策者撥冗鑑賞！

由上列各圖示，很明顯地 : 能否高效率捕獲真實晶圓缺陷 (True Failure Killer Defect) 才是突破研發及製程瓶頸，推升產品良率並促進獲利的關鍵技術。　　ˋ